Быстродействующая Система Технического Зрения (СТЗ) предназначена для автоматического распознавания, определения координат, контроля внешнего вида объектов произвольной формы и может быть использована в технике, медицине и научных исследованиях.
СТЗ включает в себя аппаратные и программные средства, которые позволяют решать широкий круг пользовательских задач. Наиболее эффективное использование СТЗ может быть достигнуто там, где необходимо получить высокую производительность работы оборудования. Например, на сборочных операциях в машиностроении, в микроэлектронике, на конвейерах в промышленности, на операциях контроля деталей и надписей и т.д.
Аппаратная часть
Программное обеспечение
Возможна доработка ПО и решение других задач визуального контроля в реальном времени по желанию заказчика.
Основные параметры
Метод распознавания
Векторная корреляция
Этот метод предусматривает последовательное описание образа в виде вектора параметров изображения. Каждый текущий вектор сравнивается с эталонным. По результатам сравнения СТЗ принимает решение об образе, совпадает он с эталоном или нет. Благодаря этому методу достигается высокая надежность распознавания (P=0.9999).
Дополнительная информация
Предприятие имеет двадцатилетний опыт создания и внедрения систем технического зрения (СТЗ). Первые разработки СТЗ были внедрены в 1979 г. на заводах электронной промышленности в г.Минске. C 1980 г. CТЗ были внедрены на многих других заводах электронной промышленности бывшего СССР в таких городах как : Москва, Зеленоград, Ленинград, Новосибирск, Томск и др.
СТЗ входят в состав робототехнического оборудования производства интегральных микросхем и предназначены для распознавания объектов произвольной формы (изображений полупроводниковых кремниевых пластин и кристаллов, а также их топологических рисунков), пространственного и углового положения этих объектов с тем, чтобы обеспечить перемещение инструмента робота (сварочный микроинструмент, схват, вакуумный пинцет и др.) в заданную точку распознаваемого объекта с высокой точностью. Координаты распознаваемого объекта в поле зрения видеокамеры СТЗ определяются с точностью 1/8 пиксела. Видеокамера СТЗ снабжена объективом с увеличением, предназначенным для работы с микрообъектами в микроэлектронике. В случае применения СТЗ для других целей, например, для обнаружения перемещающихся объектов и слежения за ними в реальном масштабе времени, распознавания движущихся автомобилей и их номерных знаков, может быть применен другой объектив (телеобъектив).
В последние годы, используя полученный опыт в микроэлектронике, разрабатываются системы, а также программные продукты, предназначенные для распознавания и обработки изображений в других областях применения. В таких как картография (создание ГИС), металлургия (контроль роста и формы разогретых кристаллических структур, контроль размеров разогретых и расплавленных металлических изделий), медицина (контроль и классификация различных препаратов на клеточном уровне), слежение за движущимися объектами. Возможны и другие варианты использования СТЗ.
Применение системы технического зрения (СТЗ)
Система технического зрения (СТЗ), сравнительная таблица с лучшими зарубежными образцами (для оборудования микросварки в микроэлектронике).
Планар Беларусь, 220763 Минск, Партизанский пр.2, Тел.(375)-17-2217216 Факс(375)-17-2260422 |
AISI 110 Parkland Plaza Ann Arbor, Michigan 48103, USA Tel.(313)995-2035 Fax(313)995-2138 |
ICOS Research Park Haasrode Esperantolaan 9 3001 Heverlee, Belgium Tel.32-16-400313 Fax 32-16-400067 |
|
Поле зрения CCD | 2,5mm x 1.8mm | 2,5mm x 1.8mm | 2,5mm x 1.8mm |
Область поиска | 800 x 600 pixel | 512 x 512 pixel | 512 x 512 pixel |
Быстродействие, включая захват кадра: одно поле два поля |
50 ms 80 ms |
120 ms |
140 ms |
Погрешность (ШЕСТЬ СИГМА) |
+- 1/8 pixel +- 0,4 um |
+- 1/6 pixel +- 0,6 um |
+- 1/4 pixel +- 0,9 um |
Синхронизация CCD | не требуется | не требуется | требуется |
Система CCD EIA (60Гц) CCIR (50Гц) |
Да Да |
Да Нет |
Да Нет |
Распознавание мелких объектов изображения, исключая КП кристалла |
Да |
Да |
Нет |
Быстродействие обучения: в режиме статики, в режиме слежения за изменяющимся объектом |
0,5c 20mc |
20c Нет |
зависит от структуры изображения Нет |